题目
Device IC damage influence in no device testing the module was verified through de-processing analysis.no device was caused by device IC damage.
提问时间：2020-06-25
答案
通过过程分析可以确定集成电路的损坏不会对检测模块造成影响.装置也不会受集成电路的影响.
表达没有错误,就是那个词：deprocessing没怎么听过呢,不过不影响意思的理解
表达没有错误,就是那个词：deprocessing没怎么听过呢,不过不影响意思的理解
举一反三
已知函数f（x）=x，g（x）=alnx，a∈R．若曲线y=f（x）与曲线y=g（x）相交，且在交点处有相同的切线，求a的值和该切线方程．
我想写一篇关于奥巴马的演讲的文章,写哪一篇好呢?为什么好
奥巴马演讲不用看稿子.为什么中国领导演讲要看?
想找英语初三上学期的首字母填空练习……
英语翻译
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